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涂層檢測(cè)-測(cè)厚檢測(cè)
金屬材料涂鍍層厚度檢測(cè)是使用超聲波測(cè)厚儀對(duì)金屬材料壁厚進(jìn)行測(cè)量，其主要由主機(jī)和探頭兩部分組成。更多 +
- [檢測(cè)百科]分享：鈦合金表面耐磨損PVD涂層及制備技術(shù)研究進(jìn)展2025年05月09日 11:21
- 為提高鈦合金表面的硬度及耐磨性能，常采用物理氣相沉積（PVD）技術(shù)在其表面制備涂層。介紹了類金剛石涂層、改性氮化物涂層、復(fù)合氮化物涂層、梯度涂層等常見的PVD涂層，系統(tǒng)闡述了磁控濺射技術(shù)、離子鍍技術(shù)、離子束輔助沉積技術(shù)、真空蒸發(fā)鍍技術(shù)等常用PVD技術(shù)的特點(diǎn)，歸納了基底偏壓、濺射功率、沉積氣壓、沉積溫度、陰極弧流等調(diào)控涂層磨損性能的工藝參數(shù)，指出了目前耐磨損PVD涂層制備存在的問題，并對(duì)其發(fā)展趨勢(shì)進(jìn)行了展望。
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- [檢測(cè)百科]分享：不同Si３N４ 相涂層坩堝中全熔多晶硅錠的制備及表征2021年08月26日 14:50
- 以αＧSi３N４ 和βＧSi３N４ 粉為原料,采用免燒結(jié)工藝在坩堝內(nèi)壁上分別制備了αＧSi３N４ 涂層、βＧSi３N４ 涂層以及二者質(zhì)量比為１∶１的復(fù)合涂層,然后在這些涂層坩堝中制備得到了多晶硅鑄錠,觀察了涂層和硅錠的表面形貌,測(cè)試了硅錠的表面粗糙度、晶粒大小以及紅區(qū)長度.結(jié)果表明:αＧSi３N４ 涂層表面粗糙不平、起伏不均勻,對(duì)應(yīng)硅錠的表面粗糙度和晶粒尺寸最大,
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